SJ/T 11654-2016 英語 PDF (SJT11654-2016)

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SJ/T 11654-2016: ソリッド ステート ディスクの一般仕様
11654-2016 の翻訳
SJ
電子工業標準
中華人民共和国
ICS35.220.20
63 号
レポート番号:
ソリッドステートディスクの一般仕様
発行日: 2016年4月5日
実施日: 2016年9月1日
発行者：人民共和国工業情報化部
中華民国
目次
序文…3
1 範囲 ... 4
2 規範的参照 ... 4
3 用語と定義 ... 5
4 要件 ... 7
5 試験方法 ... 12
6 品質評価手順 ... 20
7 マーキング、梱包、輸送、保管...22
付録A（参考）製品の外観と設置サイズ...24
付録 B (参考) インターフェース ... 28
付録C（規範）故障判定...34
ソリッドステートディスクの一般仕様
1 範囲
この規格は、要求事項、試験方法、品質評価手順、マーキング、
ソリッドステートディスクの梱包、輸送、保管。
この規格は、固体および固体固体材料の設計、生産、製造および検査に適用される。
ステートディスク（以下「製品」という）；他のデバイスも参照される場合がある
ソリッドステートディスク機能モジュールを含みます。
2 規範的参照
以下の文書は、この文書の適用に必須です。
文書については、日付が示されたバージョンのみがこの文書に適用されます。
日付のない文書については、最新のバージョン（すべての修正を含む）のみがこれに適用される。
書類。
GB/T 191 包装 – 商品の取り扱いに関する図解表示
GB/T 2421.1 電気・電子製品の環境試験 - 一般および
ガイダンス
GB/T 2422 電気電子製品の環境試験 - 用語と
定義
GB/T 2423.1 電気電子製品の環境試験 - パート2: 試験
方法 - テストA: 寒冷
GB/T 2423.2 電気電子製品の環境試験 - パート2：試験
方法 - テストB: 乾熱
GB/T 2423.3 電気電子製品の環境試験 - パート2：試験
方法 - テストCa: 湿熱、定常状態
GB/T 2423.5 電気電子製品の環境試験 - パート2：試験
方法 – テストEAとガイダンス：ショック
GB/T 2423.10 電気電子製品の環境試験 - パート2：試験
方法 – テスト Fc とガイダンス: 振動 (正弦波)
注3：ソリッドステートディスクを構成する半導体メモリチップは、
何度もプログラムされます。
3.2 寿命（耐久性）
データが正しいことが保証されているという条件の下では、ソリッドステート
ディスクは通常通り読み取りおよび書き込み操作を実行できます。
3.3 公称容量
ソリッドステートディスクメーカーが発表したソリッドステートディスクの容量は、
小数で。
注: GB または TB で表されます。1GB = 109 バイト、1TB = 1012 バイトです。
3.4 データ転送速度
2 進数で計算された、単位時間あたりに送信されるデータ ビットの数。
注: Mb/秒またはGb/秒で表されます。Mb/秒=220ビット/秒、Gb/秒=230ビット/秒です。
3.5 読み取りパフォーマンス
単位時間あたりにソリッドステートディスクから読み取られるデータバイト数、または読み取り回数
単位時間あたりの操作数。
3.6 書き込みパフォーマンス
単位時間あたりにソリッドステートディスクに書き込まれるデータバイト数、または書き込み回数
単位時間あたりの操作数。
3.7 回復可能な読み取りエラー
データの読み取り中にエラーが発生しましたが、指定された回数以内であればエラーは回復可能です
再試行回数。
3.8 回復不可能な読み取りエラー
データの読み取り時に見つかったエラーで、指定された時間内に回復できないエラー。
再試行回数。
3.9 電源投入から準備完了までの時間
電源投入からデータ読み出しまでに必要な時間。
3.10 インターフェース
ソリッドステート ディスクを他のデバイスに接続するためのインターフェイス。
3.11 有効電力消費
ソリッドステート ディスクが読み取り/書き込み状態にあるときのエネルギー消費量。
注: 単位はジュール (J) です。
3.12 アイドル時の消費電力
ソリッドステート ディスクがアイドル状態のときのエネルギー消費量。
注: 単位はジュール (J) です。
4 要件
4.1 外観と構造
4.1.1 一般的な要件
表面には明らかなへこみ、傷、ひび割れ、変形等がないこと。
製品の表面コーティングに膨れ、ひび割れ、剥がれがあってはならず、金属部品は
錆びたり、その他の機械的損傷があってはなりません。
コネクタに損傷がなく、簡単に抜き差しできます。その他の部品はしっかりしています。
緩んでいません。
機能を説明するテキストやシンボル、機能表示は明確で
正しい。
4.1.2 構造サイズ
4.1.2.1 1.8インチソリッドステートディスク
1.8インチソリッドステートディスクの形状と構造の概略図は付録を参照のこと。
A. ピンの配置と寸法については付録 B を参照してください。
4.1.2.2 2.5インチソリッドステートディスク
2.5インチソリッドステートディスクの形状と構造の概略図は付録を参照のこと。
A. ピンの配置と寸法については付録 B を参照してください。
4.1.2.3 3.5インチソリッドステートディスク
3.5インチソリッドステートディスクの形状と構造の概略図は付録を参照のこと。
A. ピンの配置と寸法については付録 B を参照してください。
4.1.2.4 その他のサイズのソリッドステートディスク
a) 製品コントローラがフラッシュメモリにデータを書き込んでいるときに電源が切れた場合
チップ：この場合、操作中のファイルデータが失われることは許可されています。ハードウェアはありません
ダメージが必要です。
b) 製品コントローラがフラッシュメモリにデータを書き込んでいないときに電源喪失が発生した場合
メモリ チップ: この場合、データの損失やエラーは許可されません。
4.6 寿命
寿命は製品マニュアルに規定された寿命要件を満たす必要があります。
4.7 エラー率
25℃の温度環境では、極端な環境の相対湿度が
65%を超えない場合、回復不能な読み取りエラー率は1つ以下でなければならない。
1013 個のデータが読み取られました。
4.8 セキュリティ
4.8.1 一般的な要件
製品の一般的なセキュリティ要件は、GBの1.3の規定に準拠する必要があります。
4943.1-2011.
4.8.2 タッチ電流
製品の接触電流は、GB 4943.1-2011 の 5.1 の規定に準拠する必要があります。
4.8.3 絶縁強度
製品の絶縁強度はGB 4943.1の5.2の規定に準拠しなければならない。
2011年。
4.8.4 接地連続性
製品の接地連続性はGB 4943.1の2.6の規定に準拠する必要があります。
2011年。
4.8.5 保護機能
製品には過電流、過電圧、短絡などの保護機能を備えなければならない。
等
4.9 電力供給能力
製品は、12V±10%および5V±5%の電圧の条件下で正常に動作します。
製品には過電流、過電圧、短絡などの保護機能が必要です。
回路等
GB/T26572。
5 試験方法
5.1 試験環境条件
気候環境試験および信頼性試験に加えて、この規格の他の試験も実施しなければならない。
試験は標準大気条件下で実施される：
a) 温度: 15°C~35°C;
b) 相対湿度：25%～75%
c) 大気圧：86kPa～106kPa。
すべての試験項目において、試験対象サンプルの周囲の磁場強度は2000を超えてはならない。
A/m; 空気中には塩水噴霧や腐食性物質が含まれていないこと。
5.2 外観と構造の試験
アピール...