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QC/T 1136-2020: 전기 자동차용 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터(IGBT) 모듈의 환경 시험 요구 사항 및 시험 방법
QC/T 1136-2020
품질관리
자동차 산업 표준
중화인민공화국의
ICS 43.040
티 35
환경 시험 요구 사항 및 시험 방법
절연 게이트 바이폴라 트랜지스터(IGBT) 모듈
전기 자동차
발행일: 2020년 12월 9일
구현일: 2021년 4월 1일
발행처: 중화인민공화국 산업정보기술부
환경 시험 요구 사항 및 시험 방법
절연 게이트 바이폴라 트랜지스터(IGBT) 모듈
전기 자동차
1 범위
이 문서는 환경 테스트 요구 사항 및 테스트 방법을 명시합니다.
전기 자동차용 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터(IGBT) 모듈.
이 문서는 전기 자동차용 IGBT 모듈에 적용됩니다. 기타
반도체 소자 모듈에서는 이를 기준으로 사용할 수 있습니다.
2 규범적 참조
다음 문서의 내용은 필수 조항을 구성합니다.
이 문서의 규범적 참조를 통해 텍스트에서. 그 중에서,
날짜가 적힌 참조 문서의 경우 해당 날짜에 해당하는 버전만 해당됩니다.
이 문서에 적용 가능; 날짜가 없는 참조 문서의 경우 최신
모든 수정 사항을 포함한 최신 버전이 이 문서에 적용됩니다.
GB/T 2423.1-2008 전기 및 전자 제품에 대한 환경 테스트
- Part 2 : 시험 방법 - 시험 A : 냉장
GB/T 2423.2-2008 전기 및 전자 제품에 대한 환경 테스트
- Part 2 : 시험 방법 - 시험 B : 건열
GB/T 2423.5-2019 전기 및 전자 제품에 대한 환경 시험
- Part 2: 시험 방법 - 시험 Ea 및 지침: 충격
GB/T 2423.10-2019 전기 및 전자 제품에 대한 환경 시험
제품 - 2부: 시험 방법 - 시험 Fc: 진동(사인파)
GB/T 2423.22-2012 전기 및 전자 제품에 대한 환경 테스트
제품 - 2부: 시험 방법 시험 N: 온도 변화
GB/T 2423.28-2005 전기 및 전자 제품에 대한 기본 환경 테스트 절차
전자 제품 - 2부: 시험 방법 - 시험 T: 납땜
GB/T 2423.56-2018 환경 테스트 - 2부: 테스트 방법 - 테스트 Fh:
진동, 광대역 랜덤 및 안내
ICES-ini: 테스트 전 수집기 누설 전류.
VGE(th): 그리드와 에미터 사이의 임계 전압.
VCEsat: 컬렉터와 에미터 사이의 포화 전압.
Rth: 열 저항.
VF: 순방향 DC 전압.
IF: 순방향 DC 전류.
IC: 수집 전류.
톤: 켜짐 단계 시간.
toff: 종료 단계 시간.
Tcha: 시험실의 온도.
VCE: 컬렉터-에미터 전압.
VGE: 그리드 방출 전압.
ICN: 수집기의 정격 전류.
USL: 사양 매뉴얼의 상한값.
LSL: 사양 매뉴얼의 하한값.
5 환경 적응성 요구 사항
5.1 외관 요구 사항
시험조립 전 및 시험조립 후 주요 검사항목 및 요구사항
테스트 분해에는 다음이 포함됩니다.
a) IGBT 모듈의 인클로저가 손상되지 않았습니다.
b) IGBT 모듈의 연결 단자는 변형되거나 산화되지 않습니다.
c) IGBT 모듈의 연결은 안정적입니다.
d) IGBT 모듈의 고정장치가 느슨해지지 않습니다.
5.2 특성 매개변수 요구 사항
수용판단 특성, 수용기준, 측정
조건은 표 1과 같다.
5.1 및 5.2의 요구사항을 충족해야 합니다.
5.3.6 고온 고습 차단
IGBT 모듈은 고온 및 고습 환경에 노출됩니다.
차단 테스트. 테스트는 다음 조항에 따라 수행되어야 합니다.
6.7. 시험 후 5.1 및 5.2의 요구 사항을 충족해야 합니다.
5.3.7 전원 재시작
IGBT 모듈은 전원 사이클 테스트를 거쳐야 합니다. 테스트는 다음과 같습니다.
6.8의 규정에 따라 수행되어야 합니다. 테스트 후에는 다음을 충족해야 합니다.
5.1 및 5.2의 요구 사항.
5.3.8 온도 충격
IGBT 모듈은 온도 충격 테스트를 받아야 합니다. 테스트
6.9의 규정에 따라 수행되어야 합니다. 시험 후,
5.1 및 5.2의 요구사항을 충족해야 합니다.
5.3.9 온도 사이클
IGBT 모듈은 온도 사이클 테스트를 거쳐야 합니다. 테스트는 다음과 같습니다.
6.10의 규정에 따라 수행되어야 합니다. 시험 후에는
5.1 및 5.2의 요구 사항을 충족합니다.
5.3.10 고온 보관
IGBT 모듈은 고온 저장 테스트를 거쳐야 합니다. 테스트
6.11의 규정에 따라 수행되어야 합니다. 시험 후,
5.1 및 5.2의 요구사항을 충족해야 합니다.
5.3.11 저온 보관
IGBT 모듈은 저온 저장 테스트를 거쳐야 합니다. 테스트
6.12의 규정에 따라 수행되어야 합니다. 시험 후,
5.1 및 5.2의 요구사항을 충족해야 합니다.
5.3.12 납땜 온도
IGBT 모듈은 납땜 온도 테스트를 거쳐야 합니다. 테스트
6.13의 규정에 따라 수행되어야 합니다. 시험 후,
5.1 및 5.2의 요구사항을 충족해야 합니다.
5.3.13 납땜성
IGBT 모듈은 납땜성 테스트를 거쳐야 합니다. 테스트는 다음과 같습니다.
6.14의 규정에 따라 수행되어야 합니다. 시험 후에는 다음을 충족해야 합니다.
GB/T 2423.10의 규정에 따릅니다. 테스트 절차는 다음과 같습니다.
a) 시험 전 샘플에 번호를 매기십시오. GB/T의 요구 사항을 따르십시오.
29332-2012, 표 2의 특성 매개변수를 테스트하고 기록합니다.
데이터;
b) 진동 방향을 선택합니다. 설치 고정 장치에 샘플을 고정합니다.
데이터 매뉴얼의 설치 요구 사항에 따라;
c) 진동 조건에 따라 진동 등의 매개변수를 설정한다.
주파수, 가속도, 지속시간;
d) 진동 테이블을 시작합니다. 샘플이 한 방향으로 진동하기 시작하게 합니다.
e) 첫 번째 방향의 진동이 끝난 후 설비를 변경합니다.
샘플 방향. 테스트가 세 가지에서 완료될 때까지 단계 b) ~ d)를 반복합니다.
X, Y, Z 방향은 끝났습니다.
f) 24시간 ~ 48시간 이내에 GB/T 29332-2012의 요구 사항에 따라 테스트를 실시합니다.
표 2의 특성 매개변수를 정리합니다. 보고서를 구성합니다.
해당 보고서 기록은 부록 A에 나와 있습니다.
6.3 무작위 진동 시험
6.3.1 테스트 조건
IGBT 모듈은 3가지의 무작위 진동 테스트를 거쳐야 합니다.
방향 X, Y, Z. 특별한 요구사항이 없는 경우,
설치 위치, IGBT의 무작위 진동 심각도 및 테스트 기간
모듈은 GB/T 28046.3-2011의 요구 사항을 참조해야 합니다.
6.3.2 테스트 절차
무작위 진동 시험은 규정에 따라 수행되어야 합니다.
GB/T 2423.56의 시험 절차는 다음과 같습니다.
a) 시험 전 샘플에 번호를 매기십시오. GB/T의 요구 사항을 따르십시오.
29332-2012, 표 1의 특성 매개변수를 테스트하고 기록합니다.
데이터;
b) 충격 방향을 선택합니다. 설치 고정 장치에 샘플을 고정합니다.
c) 무작위 진동 조건에 따라 다음과 같은 매개변수를 설정합니다.
주파수, 가속도, 지속시간;
d) 진동 테이블을 시작합니다. 샘플이 무작위로 한 번에 진동하기 시작하도록 합니다.
방향;
- 전압: VCE ≥ 0.8 VCES, VGE = 0V
- 온도: Tj = Tjop_max;
- 시간 : ≥ 1000시간;
- 종료 판단 : 5ICES_ini < ICES < USL.
6.5.2 테스트 절차
고온 차단 시험은 다음에 따라 수행되어야 합니다.
GB/T 29332의 규정에 따릅니다. 테스트 절차는 다음과 같습니다.
a) 시험 전 샘플에 번호를 매기십시오. GB/T의 요구 사항을 따르십시오.
29332-2012, 표 1의 특성 매개변수를 테스트하고 기록합니다.
데이터;
b) 그리드와 방출기를 단락시킵니다...