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YB/T 5320-2006: 금속재료. 정량적 상 분석. X선 회절의 값 K법
YB/T 5320-2006
와이비(YB)
철 야금 산업 표준
중화인민공화국의
(GB/T 5225-1985에서 조정됨)
금속재료 - 정량적 상분석 - "가치
X선 회절의 K" 방법
발행일: 2006년 7월 27일
구현일: 2006년 10월 11일
발행처: 중화인민공화국 국가발전개혁위원회
목차
1 원칙 ... 3
2 검체의 요구 사항 및 준비... 4
3 시험 장비 및 시험 조건 ... 6
4 시험절차 및 결과 계산 ... 7
부록 A (보충) ... 9
부록 B (보충) ... 12
추가 정보 ... 14
(hjkjlj) - 기준물질의 회절선의 누적강도
기준 표본의 결정면(hjkjlj)에서;
Wr - 분말을 첨가한 후 기준 물질의 무게
기준 물질에 대해 테스트함;
Wo - 테스트할 분말을 추가할 때 테스트할 분말의 무게
기준 물질에 대해 테스트함;
- 기준 시료에 있는 기준 물질의 무게
- 기준 시편에서 시험할 분말의 무게.
이 방법의 특징은 첫 번째 AND를 마지막으로 계산하는 것입니다.
Xa를 결정하세요.
참고 : 참고 표본이란, 다음 경우에 준비되는 표본을 말합니다.
값이 계산됩니다.
2 검체의 요구 사항 및 준비
2.1 샘플링
2.1.1 무게 측정
시료의 무게를 측정할 때 무게의 상대편차는 다음을 초과해서는 안 됩니다.
0.1%.
2.1.2 참고물질 및 참고시료
2.1.2.1 참고자료의 선정
참고자료를 선택하는 원칙은 다음과 같습니다.
a. 시험 중 물리적, 화학적 특성이 안정적이며
쉽게 용해됨
b. 측정에 사용되는 회절선의 강도는 다음과 같습니다.
강하다; 피크 위치가 측정된 회절선에 가깝다
서로 겹치지 않고 측정할 위상을 정하는 동안,
다른 회절선에 의해 방해받지 않음
c. 기준물질의 선형흡수계수와 입자반경
재료는 측정할 위상에 가능한 한 가깝게 있어야 합니다.
회절계의 전반적인 안정성은 1%보다 좋습니다.
3.2 테스트 조건
3.2.1 스캐닝 속도
분당 0.5도 또는 분당 0.25도를 선택해야 합니다.
3.2.2 시간 상수
따라서 2초 또는 4초를 선택해야 합니다.
3.3 회절 피크 모양에 대한 요구 사항
피크 높이는 변동 범위보다 4배 더 커야 합니다.
배경;
정점 높이는 절반 높이 너비의 약 4배가 되어야 합니다.
4 테스트 절차 및 결과 계산
정량적 결정 전에 회절선의 강도는
기준 시편과 혼합 시편은 먼저 다음 방법으로 교정되어야 합니다.
JCPDS 표준카드를 이용하여 기준물질과 위상을 확인한다
측정할 대상에는 선호하는 방향이 있습니다. 선호하는 방향이 있는 경우,
선호하는 것을 개선하거나 제거하기 위해 표본을 다시 준비해야 합니다.
가능한 한 선호되는 방향이 심각하지 않은 경우,
수정하려면 부록 B를 따르세요.
4.1 참조 표본의 가치 결정
4.1.1 측정할 순수 위상 값을 계산하려면 먼저 다음을 수행해야 합니다.
X선 회절선의 정성 분석을 수행하여 순도를 확인합니다.
불순물 회절선이 존재하지 않습니다.
4.1.2 2.1.2에 따라 선정된 순수표준물질에 대하여는 다음을 확인하여야 한다.
순도는 4.1.1에 따릅니다.
4.1.3 각각 2.1.1 및 2.1.2에 따라 샘플을 혼합합니다.
4.1.4 2.1.4 및 2.2에 따라 시료를 준비합니다.
1 본 표준도구의 종합적 안정성은 상대표준편차 σ-1을 말합니다.
회절강도를 측정할 때 8시간 이내에 측정된 회절선강도 값
동일한 시험편의 동일한 회절 표면에서 동일한 시험 하에 10분마다 한 번씩
정황.