YS/T 273.15-2012 영문 PDF (YST273.15-2012)

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YS/T 273.15-2012: 크리올라이트의 화학 분석 방법 및 물리적 특성. 15부: 압축 분말 정제를 사용한 원소 함량 측정을 위한 X선 형광 분광법
YS/T 273.15-2012
예스
비철금속 산업 표준
중화인민공화국의
ICS 71.100.10
높이 61
크리올라이트의 화학 분석 방법 및 물리적 특성 -
제15부: X선 형광 분광법
압축 분말 표를 사용한 원소 함량 결정
발행일: 2012년 12월 28일
구현일: 2013년 6월 1일
발행처: 중화인민공화국 산업정보기술부
목차
서문 ... 3
1 범위 ... 5
2 규범적 참조 ... 5
3 방법의 원리 ... 5
4 시약 ... 6
5 악기 ... 6
6개의 표본 ... 6
7 분석 절차 ... 6
8 분석 결과 ... 7
9 정밀도 ... 8
10 품질 보증 및 관리 ... 9
크리올라이트의 화학 분석 방법 및 물리적 특성 -
제15부: X선 형광 분광법
압축 분말 표를 사용한 원소 함량 결정
1 범위
YS/T 273의 이 부분은 X선 형광 분광법을 지정합니다.
불소, 알루미늄, 나트륨, 규소, 철, 유황, 인 등의 함량 측정
칼슘(각각 F, Al, Na, SiO2, Fe2O3, SO42-, P2O5, CaO로 표시됨) 및 기타
압축 분말 표를 사용하여 크리올라이트의 원소를 분석합니다.
이 부분은 불소, 알루미늄, 나트륨, 실리콘, 철, 유황의 결정에 적용됩니다.
크리올라이트의 인, 칼슘 및 기타 원소. 측정 범위는 표에 나와 있습니다.
1.
2 규범적 참조
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문서.
YS/T 273.13-2006 크리올라이트의 화학 분석 방법 및 물리적 특성 - Part
13: 시험 샘플의 준비 및 보관
3 방법의 원리
시험물질과 분산제를 일정비율로 혼합, 분쇄한 후 압착한다.
샘플 태블릿을 형성합니다. 측정은 X선 형광 분광기로 수행합니다.
검량선을 기준으로 시료의 각 원소의 함량을 계산한다.
표준 시료 태블릿에 있는 각 원소의 강도.
4 시약
4.1 아세톤: 분석적으로 순수함.
4.2 무수 에탄올: 분석적으로 순수함.
4.3 붕산: 분석적으로 순수함.
5가지 악기
5.1 파장 분산형 X선 형광 분광기.
5.2 진동 분쇄기 및 텅스텐 카바이드 분쇄 디스크: 모르타르는 가능해야 합니다.
약 30g 정도의 시편을 갈아줍니다.
5.3 정제기 및 금형 : 압착 두께는 최소 4mm이어야 하며 압력은
약 35t이어야 하며, 금형의 내경은 X-형광계 샘플 컵과 일치해야 합니다.
6개의 표본
시편은 YS/T 273.13-2006의 3.3항의 요구사항을 충족해야 합니다.
7 분석 절차
7.1 측정 횟수
동일한 시편을 두 번 독립적으로 측정한 후 평균값을 구한다.
7.2 검체 정제의 준비
7.2.1 혼합 및 분쇄 : 건조된 시편 약 10g을 달아 텅스텐 카바이드에 넣습니다.
분쇄 디스크; 시편이 깨지는 것을 방지하기 위해 아세톤(4.1) 또는 절대 에탄올(4.2) 10방울을 첨가합니다.
응집을 방지하고 진동 분쇄기를 사용하여 45μm 이하로 분쇄합니다.
7.2.2 압착 타블렛 : 적당량의 시편(7.2.1)을 금형에 붓고, 가장자리를 다듬는다.
붕산; 정제 기계를 사용하여 약 35t로 가압하고 30초 동안 유지합니다. 복용 후
샘플 정제를 꺼내어 다듬은 후, 귀 세척용 볼을 이용해 붙어 있는 분말 샘플을 불어냅니다.
그리고 X-형광계로 측정합니다. 측정할 때는 샘플의 가장자리만 잡습니다.
측정 표면의 오염을 방지하기 위해 태블릿을 사용합니다.
참고사항 1: 정제 분석 중 입자 효과를 최대한 제거하기 위해 샘플
준비 조건은 검정 곡선을 작성할 때 사용한 조건과 일치해야 합니다.
참고사항 2: 압출된 샘플 정제는 매끄럽고 강해야 하며, 다듬은 후 분말이 떨어져 나가서는 안 됩니다.
그리고 붕산은 측정 표면에 섞여서는 안 됩니다. 섞이면 시험을 할 수 없습니다.
7.3 교정
7.3.1 배경 보정: 상수 요소의 경우 배경을 하나 또는 두 개 선택합니다.
측정하다.
7.3.2 계측기 드리프트 보정: 측정 및 모니터링을 통해 계측기 드리프트를 보정합니다.
샘플.
7.3.3 검량선 그리기
교정용 샘플 정제 준비: 교정용 샘플로 크리올라이트 표준 샘플을 선택합니다.
검량선을 그리기 위한 샘플. 각 원소는 충분한 표준 시리즈를 가져야 합니다.
콘텐츠 범위와 특정 기울기. 준비 과정은 다음에 따라 수행되어야 합니다.
7.2.
7.4 결정
7.4.1 X선 형광 장비를 예열하여 안정시키고 관 전압을 조정합니다.
및 X선관 모델에 따른 관 전류. 작동 매개변수를 선택하십시오.
X선 형광 분광기 모델로 이동합니다.
7.4.2 모니터링 샘플 측정: 모니터링 샘플의 이름을 설정하고 측정합니다.
모니터링 샘플에서 분석된 원소의 X선 강도. 참조 강도
모니터링 샘플의 분석된 요소는 동일한 시작 시 측정되어야 합니다.
드리프트 보정의 효과를 보장하기 위한 표준 샘플입니다.
7.4.3 알 수 없는 샘플 측정: 정량 분석 ​​프로그램을 시작합니다.
샘플 모니터링; 그리고 계측기 드리프트 보정을 수행합니다. 표준 샘플을 측정합니다.
알려지지 않은 샘플과 동일한 배치로 준비되었습니다. 알려지지 않은 샘플의 이름을 입력하십시오.
알려지지 않은 샘플을 측정하고 분석 결과는 반복성 요구 사항을 충족해야 합니다.
표 2에 명시됨.
8 분석 결과
미지 시료의 X선 측정 강도를 기준으로 결과를 계산한다.
컴퓨터 소프트웨어로